MSA測量係統分析的概念與研究(ppt 37頁)

MSA測量係統分析的概念與研究目錄：
一、基本概念
二、測量係統的變差類型
三、計量型量具雙性的分析與研究
四、計數測量係統的分析與研究
五、測量係統分析的時機與方式方法

MSA測量係統分析的概念與研究內容提要：
1、量具
任何用來獲得測量結果的裝置；經常用來特指用在車間的裝置；包括用來測量合格/不合格的裝置（如：塞規）。
2、測量係統
用來對被測特性賦值的操作、程序、量具、設備、軟件、操作人員以及環境的集合，用來獲得測量結果的整個過程。
3、測量數據的質量
測量數據的質量用穩定條件下的某一測量係統得到的多次測量結果的統計特性來評價。例如，用在穩定條件下運行的測量係統得到某一特性的多次測量結果，若這些結果與基準值（或真值）都很“接近”，則稱這些數據的質量“高”，否則若“遠離”其基準值（或真值），則稱這些數據的質量“低”。
表征測量數據質量的統計特性是編倚（偏移）和方方差。所謂偏倚的特性，是指數據相對基位值的位置，而所謂方差的特性，是指數據離散程度。一組測量數據遠離基準值，或其變差太大，則此測量係統的變差，可能會掩蓋製造過程的變差。
4、測量過程
賦值過程定義為測量過程，而賦予的值定義為測量值。
5、測量係統的統計特性
用於輸出數據製作控製圖或計算過程能力的測量係統應具備如下的統計特性：
（1）測量係統必須處於統計控製狀態
（2）測量係統的變差必須小於製造過程的變差（6σ）及公差帶
（3）測量係統的最小增量，一般說來應為製造過程變差（ 6σ ）或公差帶兩者中較窄的十分之一
（4）製造過程的總變差相對測量係統的變差的分級數應大於5
（5）隨著時間的推移或被測物改變時（即量程變化），也應滿足上述要求。

..............................