ARMJTAG調試原理與調試構架(pdf 22頁)

1 前言
2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
3 ARM7TDMI 調試構架
4 ARM7TDMI 調試原理
5 總結

2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
既然是介紹JTAG調試，還是讓我們從IEEE的JTAG調試標準開始吧。JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準就是由JTAG這個組織最初提出的，最終由IEEE批準並且標準化的。所以，這個IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG調試標準。
接下來的這一部分，主要簡單的介紹了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本構架。雖然不是很全麵，但對了解JTAG的基本原理來說，應該是差不離了。如果希望更全麵深入的了解JTAG的工作原理，可以參考IEEE 1149.1標準。
2-1 邊界掃描
在JTAG調試當中，邊界掃描（Boundary-Scan）是一個很重要的概念。邊界掃描技術的基本思想是在靠近芯片的輸入輸出管腳上增加一個移位寄存器單元。因為這些移位寄存器單元都分布在芯片的邊界上（周圍），

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